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硬件设计 · 信号完整性 SI · 六大主题

信号完整性(Signal Integrity)方法 · 检查清单

高速数字信号的传输线基础、反射与端接、串扰与隔离、叠层与回流、等长与差分、眼图与 SI 检查清单。核心目标:让信号在 PCB 上「传得干净、到得准时」。

1
传输线基础与阻抗匹配
信号不是「导线」,是「传输线」
传输线阻抗
主题配图 · 传输线阻抗

什么时候进入传输线域

  • 当信号上升时间与往返传播延迟可比拟(上升沿 ≤1ns / 频率 ≥500MHz)时,集总模型失效,必须用分布参数传输线理论
  • 高速走线特性阻抗 Z0 需稳定,目标 50Ω 单端 / 100Ω 差分 / 90Ω USB,公差 ±10%

阻抗控制手段

  • 按叠层算线宽线距(Polar SI9000 等),参考平面连续完整
  • 阻抗突变点(过孔、连接器、分支、测试点)是反射源头
  • 过孔残桩 stub 控制:BGA 扇出 stub ≤ 板厚 1/3,必要时背钻 back-drill
  • TDR 测实际阻抗曲线,采样点避开拐角 ≥3 倍线宽
判断要点:上升时间 / 传输延迟 > 1 即按传输线处理;< 0.1 可按集总。
配词:低速看导线,高速看传输线。阻抗一致,信号才不「反弹」。
2
反射机理与端接策略
不匹配 → 反射 → 振铃
反射与端接
主题配图 · 反射与端接

反射原理

  • 反射系数 Γ = (ZL − Z0) / (ZL + Z0),源/负载阻抗与 Z0 不匹配即产生反射
  • 后果:过冲/下冲、台阶/回沟、上升沿变缓、误触发、振铃

端接方案

源端串联:R = Z0 − Zs(约 22–33Ω),不加直流功耗、布线简单,点对点首选
终端并联/戴维南:R//R = Z0,吸收反射,适合多负载(SPI 总线)
AC 端接:串联 RC,隔离直流、兼顾高频匹配(SerDes)
DDR 用 ODT:片上端接,板级只关注串联匹配电阻位置
  • 高速时钟、DDR 地址/控制线必加端接;端接电阻靠近驱动端(串联)或接收端(并联)
配词:反射是阻抗的「回声」。端接选对,过冲归零。
3
串扰与隔离设计
距离产生「美」
串扰与3W规则
主题配图 · 串扰与 3W 规则

串扰来源

  • 容性耦合(电场)+ 感性耦合(磁场),近端 NEXT 叠加增强、远端 FEXT 部分抵消
  • 频率越高、走线越长、间距越小,串扰越严重

隔离手段

  • 3W 规则:平行走线间距 ≥3 倍线宽(高速信号 ≥5W)
  • 敏感信号走带状线(两侧有参考平面包裹)而非微带线
  • 相邻层走线方向正交,避免长距离平行
  • 关键信号两侧加地保护线 guard trace(地线两端接地、宽 ≥2W)
  • 时钟线与其它信号间距 ≥ 2 倍参考平面高度
  • 跨电源分割的走线就近加回流地过孔
配词:三倍线宽是底线,包地屏蔽是狠招。串扰归零,眼图才开。
4
叠层结构与回流路径
参考平面是信号的地基
叠层与回流
主题配图 · 叠层与回流

叠层设计

  • 高速信号层紧邻完整参考平面,四层板用 Signal-GND-PWR-Signal
  • 六层板 Signal-GND-Signal-PWR-GND-Signal:Z0 控制精度 ±5%,PDN 阻抗更低
  • GND/PWR 平面间距不要过大(>20mil 会推高 PDN 阻抗、加剧 SSN)
  • 高速材料:FR-4 10GHz 损耗大,25Gbps 以上考虑 Megtron / HVLP 铜箔

回流路径

  • 每条信号线提供紧邻的镜像回流(地/电源平面),宽度 ≥3×线宽
  • 严禁跨分割走线后不回补,跨分割必加回流地过孔
  • 平面完整:避免大面积分割,模拟/数字地单点汇合
  • 参考平面不连续处 = 阻抗突变 + 回流绕行 = SI 灾难
配词:信号走多快不重要,回流能不能贴着走才重要。平面不完整,SI 全崩。
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等长控制与差分对
时序靠长度,抗扰靠差分
等长与差分
主题配图 · 等长与差分

差分信号

  • PCIe、USB3.0、以太网、SATA 都用差分:两线并行、紧耦合、等长等距同阻抗
  • 对内等长:长度差 <5mil;差分对等长偏差按 UI 控制(25Gbps UI=40ps → 偏差 <0.8mm)
  • 差分对间间距 ≥ 3W,避免对间耦合

等长控制(DDR 等总线)

  • 组内等长:DQ/DQS/DM 偏差 <±5mil;组间偏差 <±50mil(DDR4 参考)
  • 等长走蛇形/圆弧绕线,避免直角(消除 2–3Ω 突变)
  • 全程有完整地平面参考,跨分割导致阻抗突变会破坏时序
  • 时钟走最短路径,过孔 ≤2 个,过孔周围做接地处理
配词:等长控时序,差分抗干扰。绕线守规则,时序才不偏。
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眼图分析与 SI 检查清单
测出来,才算数
眼图与SI检查
主题配图 · 眼图与 SI 检查

眼图怎么看

  • 眼高反映噪声容限、眼宽反映时序裕量,开口越大越好
  • 用 BERT 注入 PRBS 码型 + 示波器模板测试,裕量 ≥0.3 UI
  • 眼图是统计结果,定位缺陷要结合 TDR(找阻抗突变)或 S 参数仿真

SI 检查清单(可勾选)

投板前 SI Checklist

配词:眼图开口大、TDR 无突变、串扰小于 10%——SI 三关全过再投板。

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